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      元器件測試:為半導體分立器件、集成電路進行性能測試、高溫動態老煉等

      序號

      產品類別

      試驗檢測標準

      1

      TTL集成電路

      GB/T17574-1998   半導體器件集成電路第2部分:數字集成電路

      2

      CMOS集成電路

      SJ/T10741-2000半導體集成電路 CMOS電路測試方法的基本原理

      3

      電壓比較器、運算放大器

      GB/T6798-1996半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理

      GB/T17940-2000   半導體器件 集成電路第3部分:模擬集成電路

      GJB597/3-1990   半導體集成電路電壓比較器詳細規范

      GJB597/5A-1990半導體集成電路運算放大器詳細規范

      4

      時基電路

      GB/T   14030-1992半導體集成電路時基電路測試方法的基本原理

      5

      電壓調整器

      GB/T4377-1996半導體集成電路電壓調整器測試方法的基本原理

      6

      光電器件

      GB/T15651.3-2003   半導體器件分立器件和集成電路 5部分-3 光電子器件測試方法

      7

      雙極型晶體管

      GB/T4587-1994   半導體分立器件和集成電路 7部分:雙極型晶體管

      8

      場效應管

      GB/T4586-1994   半導體器件 分立器件第8部分:場效應晶體管

      9

      二極管

      GB/T4023-1997半導體器件:分立器件和集成電路第2部分:整流二極管

      GB/T6571-1995半導體器件 分立器件第3部分:信號(包括開關)和調整二極管

      10

      電阻器

      GB/T5729-2003電子設備用固定電阻器第一部分:總規范

      11

      電容器

      GB/T2693-2001   電子設備用固定電容器第一部分:總規范

      GJB63B-2001   有可靠性指標的固體電解質鉭電容器總規范

      GJB   191B-2009ZZ含宇航級云母固定電容器通用規范

      GJB733A-1996有可靠性指標的非固體電解質鉭固定電容器總規范

      GJB1312A-2001非固體電解質鉭電容器總規范

      GJB1313-1991云母電容器總規范

      GJB1314-1991  2類瓷介電容器總規范

      12

      電感器

      GJB   675A-2002有和無可靠性指標的模制射頻固定電感器通用規范

      13

      微波組件

      GJB2650-1996微波元器件性能測試方法

      14

      元器件高溫貯存、溫度循環

      GJB360B-2009電子及電氣元件試驗方法

      GJB128A-1997   半導體分立器件試驗方法

      GJB548B-2005微電子器件試驗方法和程序


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